**電子元器件二次篩選

電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發現假冒翻新元器件的有效手段。

電子元器件篩選是通過一系列短期環境應加速試驗及測試技術，對整批電子元器件進行全批次非破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產品是否合格接收，提高產品使用可靠性。

元器件篩選的目的：

1.剔除早起失效產品。

2.提高產品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點：

1.篩選試驗為非破壞性試驗。

2.不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。

3.對批次產品進行*篩選。

4.篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。

二次篩選測試項目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線破壞檢查、

X射線非破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性示

蹤檢漏、濕度試驗。

3.環境應?篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度

沖擊、綜合應力。

元器件篩選覆蓋范圍：

元件類：電阻、電容、電感、敏感元件、磁性元件、濾波器、晶體振蕩器。

器件類：光電耦合器、二極管、晶體管、集成電路。

機電類：繼電器、開關。

線纜類：連接器、電線電纜。

廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業部電子602計量站，歷經五十余年的技術沉淀，持續變革創新，實現跨越式發展，成為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計量檢測機構，專業提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統研發等技術服務和產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“**四證”等**和工業眾多**機構的認可資質。

我們的設備能力：

1.老煉需要的設備：

集成電路高溫動態老煉系統、混合集成電路高溫動態老煉系統

電源模塊高溫老煉檢測系統、分立器件綜合老煉檢測系統

*立器件間歇壽命試驗系統、電容器高溫老煉檢測系統

繼電器低電平壽命篩選系統、電容高溫反偏老煉系統

二極管恒流老煉系統。

2.電測試需要的設備：

阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀

高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器

頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設備：

光學顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。

覆蓋標準：

GJB128A-97半導體分立器件試驗方法

GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法

GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序

GJB 7243-2011軍電子元器件篩選技術要求

GJB 40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法

QJ 10003—2008進口元器件篩選指南

MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法

MIL-STD-883G

依據各行業及領域客戶的需求，廣電計量精心打造出涵蓋計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測、化學分析、食品農產品檢測、環保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢?業信息化系統開發、測控產品研發的**計量檢測技術服務和產品，貫穿企業品質管控全過程。

業務聯系信息：

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